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        從微缺陷到高深寬比:半導體異質整合量檢測技術的革新

        • 2025/12/16
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        在AI與高效能運算驅動下,全球半導體加速走向先進製程與異質整合,使檢測技術成為確保良率與可靠度的核心能力。面對三維結構、多材料堆疊與奈米級缺陷,傳統檢測已不足以因應,AI驅動的智能化量測因而成為主流。本研究從微小缺陷、高深寬比結構(HAR...

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        歐洲光子積體電路產業趨勢、關鍵應用 與潛在機會

        • 2023/11/14
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        二十一世紀,光子積體電路(PIC)為推動多領域科技革新的重要技術。光子積體電路技術是將多數傳統積體電路之銅線轉為利用光波導,透過光學元件整合,解決傳統積體電路本身的效能問題。該技術利用矽光子(SiPh)、磷化銦(InP)、氮化矽(SiN)...