智慧檢測賦能異質整合：AI驅動的半導體先進製程缺陷檢測技術發展
開始閱讀
- 2025/07/23
- 48
講師：
呂建興、
課程時間：
00:28:41.9000000
課程介紹
- 全球市場與製程設備競局
- 封裝技術挑戰與檢測角色演變
- 先進量測技術與非破壞檢測突破
- 智慧檢測賦能異質整合：AI驅動的半導體先進製程缺陷檢測技術發展
開場
00:00:37 - 全球市場與製程設備競局
00:06:25 - 封裝技術挑戰與檢測角色演變
00:16:24 - 先進量測技術與非破壞檢測突破
00:27:42 - 結論
00:28:41