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        先進製程中的AOI技術日顯重要
        AOI Technology in Advanced Processes Has Become Increasingly Important
        • 2020/12/30
        • 1852
        • 57

        先進製程中的自動光學檢測技術日受重視,本文先進製程是指矽晶圓的檢測、PCB中的IC載板檢測、半導體封裝測試的檢測、Mini LED的檢測。2020年-2025年AOI的年複合成長率16%,3D AOI技術將佔市場規模大宗,成長的動力來自於對高階應用的電子零件(high-quality electronic components)需求與PCB的複雜度(線距縮小)增加。我們看好Mini LED的AOI設備需求,線寬、線距縮小能有效增加封裝的腳位及縮短訊號延遲時間,提升整體系統效能。但也增加了AOI的難度,未來線寬線徑小於10um的AOI檢測將有一定的市場。

        【內容大綱】

        • 一、先進製程中的自動光學檢測技術日益重要
        • 二、2020年-2025年AOI的年複合成長率16%
        • 三、3D AOI技術將佔市場規模大宗
        • 四、看好Mini LED的AOI設備需求
        • 五、結語
        • IEKView

         

        【圖表大綱】

        • 圖1、2020年-2025年主要應用AOI的產業領域的年複合成長率
        • 圖2、全球AOI技術的市場規模
        • 圖3、全球3D AOI技術的市場規模
        • 圖4、矽載板的線寬、線距縮小
        • 圖5、AOI技術DROC分析

         

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