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        3D-IC TSV導通孔技術
        • 2013/01/30
        • 2830
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        【內容大綱】

        • 一、3D IC的製程技術趨勢
        • 二、3D-IC TSV導通孔技術的各模組製程技術
        • (一)導通孔黃光微影製程- Photolithography
        • 三、專家觀點

        【圖表大綱】

        • 圖一 3DIC與傳統IC製程比較
        • 圖二 TSV製程成本分析
        • 圖三 Bosch DRIE 製程步驟及其所形成TSV 導孔之SEM 照片
        • 表一 兩種TSV製程比較表
        • 圖四 TSV製程中AZ正型、負型光阻的比較
        • 表二 正、負型光阻性能比較表
        • 圖五 杜邦乾膜光阻與晶片貼合製程
        • 圖六 杜邦乾膜光阻與晶片貼合後SEM圖
        • 圖七 杜邦乾膜光阻顯影後SEM圖

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